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XI 400 Mikroskopoptik

Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten

Details

Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. In Kombination mit einem passenden Ständer ermöglicht dies eine professionelle Messung von Leiterplatten und Komponenten in der Elektronikindustrie. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist variabel zwischen 90 und 110 mm. Durch den eingebauten Motorfokus lässt sich die Kamera bequem in der mitgelieferten PIX Connect Software fokussieren.

Wichtige Parameter:
Analyse kleinster Komponenten ab 240 µm
Motorfokus vereinfacht die Handhabung
Optische Auflösung: 382x288 Pixel
Aufnahme radiometrischer Videos

Leiterplatten sind das Herz elektronischer Geräte. Diese werden immer kleiner, müssen zugleich aber immer höhere Leistungen vollbringen. Mithilfe der Mikroskopoptik der Infrarotkamera Xi 400 lassen sich Temperaturen bestückter Platinen oder ganzer Baugruppen präzise berührungslos messen. Überhitzte Partien können so schnell identifiziert und mögliche Defekte abgewendet werden.
Ursachen für zu hohe Temperaturen können beispielsweise defekte Bauteile, falsch dimensionierte Leiterplatten oder schlecht ausgeführte Lötstellen sein.

Datenblatt downloaden

Applikation / Anwendung





Technische Daten

Temperaturbereich –20 °C ... 100 °C
0 °C ... 250 °C
(20) 150 °C ... 900 °C
Spektralbereich 8 - 14 µm
Thermische Empfindlichkeit 80 mK @ 27 Hz
Optische Auflösung 382 x 288 Pixel
Bildfrequenz 80 Hz / 27 H
Optiken 18° x 14° (f = 20 mm)
Schnittstellen USB 2.0 / optional USB zu GigE (PoE) Interface
Makro-Optik 18° x 14° (f = 20 mm)
Genauigkeit (bei Umgebungstemperatur 23 ±5 °C): ±2 °C or ±2 %, es gilt der größere Wert
Software PIX-Connect
Umgebungstemperatur 0 °C...50 °C

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Schreiben Sie uns eine Anfrage: info@iris-gmbh.com

Sie können uns für Rück- und Anfragen während unserer Geschäftszeiten natürlich auch telefonisch erreichen.
Auf unserer Kontaktseite finden Sie alle nötigen Informationen dazu.

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