Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten

Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. In Kombination mit einem passenden Ständer ermöglicht dies eine professionelle Messung von Leiterplatten und Komponenten in der Elektronikindustrie. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist variabel zwischen 90 und 110 mm. Durch den eingebauten Motorfokus lässt sich die Kamera bequem in der mitgelieferten PIX Connect Software fokussieren.

Wichtige Parameter

• Analyse kleinster Komponenten ab 240 µm
• Motorfokus vereinfacht die Handhabung
• Optische Auflösung: 382x288 Pixel
• Aufnahme radiometrischer Video

Xi 400 mit Mikroskopoptik: Kompakter Helfer für Elektronikanwendungen

Leiterplatten sind das Herz elektronischer Geräte. Diese werden immer kleiner, müssen zugleich aber immer höhere Leistungen vollbringen. Mithilfe der Mikroskopoptik der Infrarotkamera Xi 400 lassen sich Temperaturen bestückter Platinen oder ganzer Baugruppen präzise berührungslos messen. Überhitzte Partien können so schnell identifiziert und mögliche Defekte abgewendet werden.
Ursachen für zu hohe Temperaturen können beispielsweise defekte Bauteile, falsch dimensionierte Leiterplatten oder schlecht ausgeführte Lötstellen sein.