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Pi 640i Mikroskopoptik

Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten und winzigen Komponenten

Details

Die neu entwickelte Mikroskopoptik für die Infrarotkamera PI 640i ermöglicht die genaue und zuverlässige Temperaturmessung an Leiterplatten. Dabei können sowohl die gesamte Leiterplatte als auch detaillierte Makroaufnahmen mit einer Auflösung von 28 µm fokussiert werden. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist zwischen 80 und 100 mm variierbar.
Die im Lieferumfang enthaltende hochwertige Tischhalterung erlaubt eine einfache, dabei stets präzise Fein-Justierung der Kamera.

Die Infrarot-Mikroskopoptik ermöglicht sowohl die thermische Analyse ganzer Leiterplatten als auch detaillierte Makroaufnahmen einzelner Elemente. Die sehr gute thermische und geometrische Detailauflösung der Kamera zeigt kleinste Temperaturdifferenzen auf und gewährleistet so eine effektive und präszise Funktionsprüfung von Elektronikprodukten.

Datenblatt downloaden

Technische Daten

Temperaturbereich –20 ... 100 °C,
0 ... 250 °C,
150 ... 900 °C
Spektralbereich 8 – 14 μm
Thermische Empfindlichkeit 40 mK mit 29° x 22° FOV / F = 0,9
40 mK mit 54° x 38° FOV / F = 0,9
40 mK mit 80° x 54° FOV / F = 0,9
40 mK mit 18° x 14° FOV / F = 1,1
Optische Auflösung 640 x 480 Pixel @ 32 Hz
640 x 120 Pixel @ 125 Hz
Optiken PI 640 12° x 9° (F=1,1) / f= 44 mm
Schnittstellen USB 2.0
Genauigkeit (bei Umgebungstemperatur 23 ±5 °C) : ±2 °C oder ±2 %, es gilt der größere Wert
Software PIX-Connect
Umgebungstemperatur PI 640i: 0 ... 50 °C

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Schreiben Sie uns eine Anfrage: info@iris-gmbh.com

Sie können uns für Rück- und Anfragen während unserer Geschäftszeiten natürlich auch telefonisch erreichen.
Auf unserer Kontaktseite finden Sie alle nötigen Informationen dazu.

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