Pi 640i Mikroskopoptik
Details
Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten und winzigen Komponenten
Die neu entwickelte Mikroskopoptik für die Infrarotkamera PI 640i ermöglicht die genaue und zuverlässige Temperaturmessung an Leiterplatten. Dabei können sowohl die gesamte Leiterplatte als auch detaillierte Makroaufnahmen mit einer Auflösung von 28 µm fokussiert werden. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist zwischen 80 und 100 mm variierbar.
Die im Lieferumfang enthaltende hochwertige Tischhalterung erlaubt eine einfache, dabei stets präzise Fein-Justierung der Kamera.
Wichtige Parameter
- Analyse kleiner Komponenten mit einer Auflösung bis zu 28 µm
- Gleichzeitige elektrische Prüfung und thermische Analyse
- Mit einer Temperaturauflösung (NETD) von 80 mK
Vorteile
• Weiter Messbereich von 575 °C bis 1900 °C ohne Unterbereiche
• Spezielle schmalbandige spektrale Empfindlichkeit bei 800 nm, ideal für fast alle NIR- und CO2- Laserbearbeitungsanwendungen
• Hochdynamischer CMOS-Detektor mit bis zu 764 x 480 Pixel Auflösung
• Bis zu 1 kHz Bildfrequenz für schnelle Prozesse
• Echtzeit-Analogausgang mit 1 ms Reaktionszeit
• Umfangreiches Softwarepaket und SDK inklusive
Einsatzgebiete der Mikroskopoptik
Die Infrarot-Mikroskopoptik ermöglicht sowohl die thermische Analyse ganzer Leiterplatten als auch detaillierte Makroaufnahmen einzelner Elemente. Die sehr gute thermische und geometrische Detailauflösung der Kamera zeigt kleinste Temperaturdifferenzen auf und gewährleistet so eine effektive und präszise Funktionsprüfung von Elektronikprodukten.
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Technische Daten
| Temperaturbereich (skalierbar) | –20 ... 100 °C, 0 ... 250 °C, (20)150 ... 900 °C, 200 ... 1500 °C (Option) |
| Detektor | 640 x 480 Pixel @ 32 Hz 640 x 120 Pixel @ 125Hz, FPA |
| Spektralbereich | 8 – 14 µm |
| Mikroskopoptik (FOV) | MO44: f=44mm; 20,0 x 14,0mm; 12° x 9° (F=1,1) / f= 44 mm MO2X: f=60mm; 5,4 x 4,0mm; 10° x 8° (F=1,3) / f= 44 mm |
| Kleinster Messfleck (IFOV) | 28 µm |
| MFOV | 85 µm |
| FOV (Messfeld) | 25 mm x 18 mm |
| Fokuseinstellung | 80 – 100 mm |
| Systemgenauigkeit | ±2 °C oder ±2 %, es gilt der größere Wert |
| Thermische Empfindlichkeit (NETD) | 80 mK |
| PC Schnittstellen | USB 2.0 |
| Standard-Prozess-Interface (PIF) | 0–10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 0–10 V Ausgang |
| Industrie-Prozess-Interface (IPIF) | 2x 0–10 V Eingang, digit. Eingang (max. 24 V), 3x 0/4 – 20 mA Ausgänge, 3x Relais (0–30 V / 400 mA), Fail-Safe-Relais |
| Kabellängen (USB) | 1 m (Standard), 3 m, 5 m, 10 m, 20 m |
| Umgebungstemperatur | 0 ... 50 °C |
| Lagertemperatur | –40 ... 70 °C |
| Relative Luftfeuchtigkeit | 20–80 %, nicht kondensierend |
| Gehäuse (Größe / Schutzklasse) |
46 x 56 x 119 - 126 mm (abhängig von der Fokusposition) / IP 67 (NEMA 4) |
| Gewicht | 370 g, inkl. Objektiv |
| Schock / Vibration | IEC 60068-2-27 (25G und 50G) / IEC 60068-2-6 (sinusförmig), IEC 60068-2-64 (Breitbandrauschen) |
| Stativaufnahme | 1/4 – 20 UNC |
| Spannungsversorgung | via USB |
| Emissionsgrad | 0,100 ... 1,100 |
| Software | PIX Connect / Windows and Linux SDKs |
| Lieferumfang (Set) | • PI 640i Kamera • Mikroskop-Ständer • Mikroskop-Optik (MO44) • Standard PIF • Standard USB-Kabel (1 m) • Bedienungsanleitung PI Kamera • Robuster Hartschalenkoffer • Softwarepaket PIX Connect (auf USB-Stick) |
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